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Park XE7 tiene toda la tecnología de punta que espera de Park Systems, a un precio que su laboratorio puede pagar.  Diseñado con la misma atención al detalle que nuestros modelos mas avanzados, el Park XE7 le permite hacer su investigación a tiempo y dentro del presupuesto.

Alto rendimiento sin compromisos Park XE7 proporciona mediciones precisas con la resolución a nanoescala mas alta que cualquier otro producto de su clase. Le permite obtener imágenes de muestra y sus mediciones características fieles a su nanoestructura gracias a sus mediciones de escaneo plano, ortogonal y lineal por su arquitectura AFM única: XY y Z independientes, escaneo basados en flexión. Ademas el exclusivo modo «True Non-Contact» de Park le proporciona las imágenes mas nítidas, escaneo tras escaneo sin disminuir la resolución.

Fácil de usar y alta productividad. Park XE7, junto con su intuitiva interfaz gráfica de usuario y sus herramientas automatizadas, permite que incluso los usuarios novatos obtengan de la colocación de muestras a los resultados de escaneo, rápidamente. Desde el montaje de la punta pre-alineada, fácil intercambio de muestra y punta, alineación láser simple, visualización óptica de arriba hacia abajo en el eje, controles de escaneo fáciles de usar y procesamiento de software, el Park XE7 proporciona la mayor productividad de investigación en AFM.

El Park XE15 incluye muchas capacidades únicas que lo hacen ideal para laboratorios compartidos que manejan una amplia gama de muestras, investigadores que realizan experimentos con múltiples variantes e ingenieros de análisis de fallas que trabajan en obleas. Su precio razonable y su robusto conjunto de características también lo convierten en uno de los AFM de muestra grande de mejor valor en la industria.

El exclusivo escaneo MultiSample aumenta la productividad de la investigación.

Maximice su eficiencia con el único AFM que ofrece la capacidad de obtener imágenes y medir múltiples muestras en una sola pasada. Simplemente cargue el escenario con sus muestras e inicie el proceso de escaneo. Esta característica tambien le permite escanear las muestras en condiciones ambientales idénticas, mejorando la precisión y confiabilidad de sus datos.

Un gran tamaño de muestra aumenta las posibilidades.

A diferencia de la mayoría de los AFM, el Park XE15 puede escanear una muestra de hasta 200mm x 200mm. Esto lo hace ideal para investigadores que desean esanear muestras más grandes o ingenieros de análisis de fallas que necesitan colocar obleas de silicio en el escenario.