Página no encontrada

La tarea de identificar defectos a nanoescala es un proceso que consume mucho tiempo para los ingenieros que trabajan con medios y sustratos planos. Park NX-HDM es un sistema de microscopía de fuerza atómica que acelera el proceso de revisión de defectos en un orden de magnitud a través de la identificación, escaneo y análisis automatizados de defectos. Park NX-HDM se conecta directamente con una amplia gama de herramientas de inspección óptica, lo que aumenta significativamente el rendimiento de la revisión automática de defectos. Además, Park NX-HDM proporciona mediciones precisas de rugosidad de la superficie debajo del angstrom, escaneo tras escaneo. Park NX-HDM, junto con el piso de ruido más bajo de su industria, y su exclusiva tecnología «True Non-Contact», es el AFM más preciso para la medición de la rugosidad de la superficie en el mercado.

Mayor rendimiento, revisión automática de defectos.