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Park XE7 tiene toda la tecnología de punta que espera de Park Systems, a un precio que su laboratorio puede pagar.  Diseñado con la misma atención al detalle que nuestros modelos mas avanzados, el Park XE7 le permite hacer su investigación a tiempo y dentro del presupuesto.

Alto rendimiento sin compromisos Park XE7 proporciona mediciones precisas con la resolución a nanoescala mas alta que cualquier otro producto de su clase. Le permite obtener imágenes de muestra y sus mediciones características fieles a su nanoestructura gracias a sus mediciones de escaneo plano, ortogonal y lineal por su arquitectura AFM única: XY y Z independientes, escaneo basados en flexión. Ademas el exclusivo modo «True Non-Contact» de Park le proporciona las imágenes mas nítidas, escaneo tras escaneo sin disminuir la resolución.

Fácil de usar y alta productividad. Park XE7, junto con su intuitiva interfaz gráfica de usuario y sus herramientas automatizadas, permite que incluso los usuarios novatos obtengan de la colocación de muestras a los resultados de escaneo, rápidamente. Desde el montaje de la punta pre-alineada, fácil intercambio de muestra y punta, alineación láser simple, visualización óptica de arriba hacia abajo en el eje, controles de escaneo fáciles de usar y procesamiento de software, el Park XE7 proporciona la mayor productividad de investigación en AFM.