RAMAN AFM

22 agosto, 2019

Tecnología Raman líder de HORIBA está ahora integrada con la microscopía de sonda de barrido destacado (SPM). La plataforma integra Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), las técnicas ópticas de campo cercano (SNOM, NSOM), Scanning Tunneling Microscopy (STM), técnicas de diapasones y espectroscopia óptica confocal (Raman y fluorescencia de imagen) en un instrumento versátil, para una rápida co simultánea mediciones y mejorada-Tip Raman Spectroscopy (TERS)-localizada.